企业简介 产品信息 文档下载 人才招聘 联系我们
|
返回首页
|
索取资料
|
中文 English
|
 
 CENTURION涡流检测仪
 DAKOTA超声波测厚仪
 GFM光学3D表面测量仪
  MikroCAD Series
  TopoCAM series
  PRIMOS Series
 HIROX工业视频内窥镜
 ITI工业视频内窥镜
 LIST涂(镀)层测厚仪
 LORADX-Ray探伤机
 SONATEST超声波探伤仪
 BoltMIKE螺栓紧固应力仪
 FlawMIKE超声波探伤仪
 T-MIKE超声波测厚仪
 UE多功能超声波探测仪
 VIDISCO平板X-Ray
数字显微镜/光学显微镜/扫描电子显微镜等
SMT/SEMICONDUCTOR/FPD等电子工业检测设备
太阳能电池片检测设备
工业无损探伤检测设备
司法/刑侦检测设备
生命科学相关设备
 
 
 

GFM
MikcroCAD
微型光学三维表面测量设备

  GFM微型光学3D表面测量设备MikcroCAD,不仅可以对各种尺寸的工业零件的曲面形貌剖面及粗糙度进行3D检测,而且有着三维建模速度快及高精度的优点。该光学设备的非接触式的测量是基于通过DLP技术产生的边缘投射进行的。

MikcroCAD

 


1.可高度集成应用于各行业生产线上

2.各个轴方向上的微米级或亚微米级分辨率保证了制造过程参数的精确度

3.仅仅使用MikcroCAD一种设备,就能对生产过程中主要参数的设定有个详细的调查

4.在一次处理过程中,就能对多种技术参数自动的进行测量和分析

5.新增的训练模式使您迅速了解设备的检测功能

MikcroCAD

 


1.测量不同类型物体表面和材料的细微形貌起伏以及粗糙度

2.均匀度测量、磨损测量和结构分析

3. 削切边缘圆滑度测量,以及各种度量工具,例如半径、相位和K因子

4.物体零件参数的测量,例如:高度、宽度、长度和锐度

MikcroCAD


MikroCAD PICO

应用于 10 微米以上刀具切削刃的测量
刀具切削刃平整测量

测量扫描点数

  360.000

分析截面数

  100

测量用时

  2 s

测量范围

  1,8 x 1,2 mm2

Z 方向上分辨率

  0,2 μm

X,Y 方向上分辨率

  2,5 μm

平面点云密度

  167.000/mm2

高度调节方式

  手动调节


MikroCAD LIGHT

5 微米以上刀具切削刃测量和分析
刀具切削刃平整度分析
角度测量
对称性分析与 K Factor 分析
与理想模型比较

测量扫描点数

  2.000.000

分析截面数

  400

测量用时

  6 s

测量范围

  2,4 x 1,8 mm2

Z 方向上分辨率

  0,2 μm

X,Y 方向上分辨率

  1,5 μm

平面点云密度

  500.000/mm2

高度调节方式

  手动调节


MikroCAD ZOOM

5 微米以上刀具切削刃测量与分析
刀具切削刃平整度测量分析
角度测量
K facor 刀具对称性测量分析
与理想模拟模型比较

测量扫描点数

  2.000.000

分析截面数

  400

测量用时

  6 s

测量范围

  0,7 x 0,5mm2 4,8 x 3,6mm2

Z 方向上分辨率

  0,1 μm...0,3 μm

X,Y 方向上分辨率

  0,4 μm...3 μm

平面点云密度

  5.000.000/mm2...116.000/mm2

高度调节方式

  半自动高度调节和多轴校准夹具